[发明专利]星载干涉式光谱仪的微振动影响测试方法有效
| 申请号： | 202010162849.4 | 申请日： | 2020-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN111380835B | 公开（公告）日： | 2023-04-14 |
| 发明（设计）人： | 郭玲玲;顾亦磊;赵其昌;汪少林;杨勇;吴泽鹏 | 申请（专利权）人： | 上海卫星工程研究所 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45;G01N21/25 |
| 代理公司： | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人： | 李佳俊;郭国中 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及光谱仪性能测试技术领域内的一种星载干涉式光谱仪的微振动影响测试方法，包括以下步骤：S1，模拟在轨工况并建立测试状态；S2，光谱仪加电测试，记录无振动激励下的光谱仪动镜速度数据与干涉图T1；S3，通过微振动平台施加定向的振动激励给光谱仪，并实时监测测点的振动响应以及光谱仪的动镜速度数据，获取频率敏感点；S4，对频率敏感点进行定频振动激励，记录该激励下的干涉图T2；S5，分别计算干涉图T1和干涉图T2的光谱，通过分析气体典型吸收峰对应的位置和幅度，比较振动前后的光谱稳定度；S6，改变振动激励方向，重复步骤S3至步骤S5。本发明解决了以往仅通过仿真分析影响情况无法验证的问题，方法合理、操作可行、灵活性强。 | ||
| 搜索关键词： | 干涉 光谱仪 振动 影响 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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