[发明专利]一种基板的检测方法在审
| 申请号： | 202010165293.4 | 申请日： | 2020-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN111176081A | 公开（公告）日： | 2020-05-19 |
| 发明（设计）人： | 范志翔;葛先进 | 申请（专利权）人： | TCL华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G03F7/20 | 分类号： | G03F7/20;G01M11/00 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 唐秀萍 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种基板的检测方法，该检测方法包括：在玻璃基板上方涂覆预设光刻胶；提供一预设掩膜版，其中预设掩膜版上设有至少一掩膜图案，掩膜图案包括多条横线以及与横线垂直交错的多条纵线；利用预设掩膜版对涂覆有预设光刻胶的玻璃基板进行处理，得到具有第一百格线的玻璃基板；以及对具有第一百格线的玻璃基板进行百格测定。本发明提供的基板的检测方法，利用掩膜版对玻璃基板进行百格线划线，节省了划线时间，且避免了人工操作出现的受力不均的现象，保证了百格线的笔直和百格线宽的均匀性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 方法 | ||
【主权项】：
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