[发明专利]荧光探针法测定混凝滤饼层孔隙率的方法在审
申请号: | 202010167716.6 | 申请日: | 2020-03-11 |
公开(公告)号: | CN111458272A | 公开(公告)日: | 2020-07-28 |
发明(设计)人: | 吴云;覃智炜;颜范勇;王旭佳;张宏伟 | 申请(专利权)人: | 天津工业大学 |
主分类号: | G01N15/08 | 分类号: | G01N15/08 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 陆艺 |
地址: | 300387 *** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明公开了荧光探针法测定混凝滤饼层孔隙率的方法,步骤为:(1)将混凝滤饼层连同超滤膜依次浸入由低到高呈梯度分布的乙醇水溶液中及无水乙醇中进行脱水;(2)裁剪成小块,浸于槲皮素探针溶液或碳量子点探针溶液中进行染色,晾干,放置在共聚焦皿中待用;(3)在共聚焦显微镜两种波长的激光器共同开启的情况下观察;利用沿共聚焦显微镜Z轴自下至上逐层捕捉每层混凝滤饼层的荧光图像,通过电脑输出各个混凝滤饼层的荧光图像,利用图形处理软件对各个混凝滤饼层的荧光图像进行处理。本发明的方法能够弥补传统方法无法直接获得混凝超滤工艺中混凝滤饼层内孔隙率,本发明的方法测定结果准确,具有操作简单,成本低等特点。 | ||
搜索关键词: | 荧光 探针 测定 滤饼 孔隙率 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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