[发明专利]芯片封装结构及其制造方法在审
申请号: | 202010170286.3 | 申请日: | 2020-03-12 |
公开(公告)号: | CN112838067A | 公开(公告)日: | 2021-05-25 |
发明(设计)人: | 齐中邦 | 申请(专利权)人: | 南茂科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/488 | 分类号: | H01L23/488;H01L23/31;H01L21/50;H01L21/56;H01L21/60 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 罗英;臧建明 |
地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种芯片封装结构,包括芯片、封装胶体、第一介电层、第一重布线路层、第二重布线路层以及第二介电层。封装胶体包封芯片。封装胶体中具有多个导电连接件。第一介电层配置于芯片的主动面及部分封装胶体上。第一重布线路层配置于封装胶体相对于第一介电层的表面上。第二重布线路层配置于第一介电层上。第二介电层配置于第二重布线路层及部分第一介电层上。部分导电连接件位于芯片的背面上,背面通过部分导电连接件电性连接至第一重布线路层,且导电部电性连接至第二重布线路层、导电连接件及第一重布线路层。另提供一种芯片封装结构的制造方法。 | ||
搜索关键词: | 芯片 封装 结构 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
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