[发明专利]一种获取试样的显微图像信息的方法与设备有效
申请号: | 202010171393.8 | 申请日: | 2020-03-12 |
公开(公告)号: | CN113393407B | 公开(公告)日: | 2023-02-10 |
发明(设计)人: | 张大庆 | 申请(专利权)人: | 平湖莱顿光学仪器制造有限公司 |
主分类号: | G06T5/50 | 分类号: | G06T5/50;G06T3/40;G06T15/08;G06T11/60;G02B21/36 |
代理公司: | 上海三和万国知识产权代理事务所(普通合伙) 31230 | 代理人: | 周建华 |
地址: | 314299 浙江省嘉兴市平*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本申请的目的是提供一种获取试样的显微图像信息的方法与设备,包括:通过获取关于试样的整体区域的多个显微子图像信息,根据所述多个显微子图像信息生成关于所述试样的综合显微图像信息,其中,所述综合图像信息包括关于所述整体区域中部分区域的三维图像,以及所述整体区域中除所述部分区域外的其他区域的二维图像。本方案可以根据用户需求获取用户感兴趣的部分区域对应的三维图像,并结合其他区域的二维图像,得到综合显微图像信息,所述综合显微图像信息相比于单纯的三维图像,数据量小,相比于单纯的二维图像,能够获取到更详细的关键信息,提高了资源利用率同时,保证了图像的质量,提升了用户的使用体验。 | ||
搜索关键词: | 一种 获取 试样 显微 图像 信息 方法 设备 | ||
【主权项】:
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