[发明专利]一种测试电路及其构成的集成电路和测试设定方法有效
| 申请号： | 202010172132.8 | 申请日： | 2020-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN111175645B | 公开（公告）日： | 2021-03-16 |
| 发明（设计）人： | 傅科成;黄小伟;夏晓亮 | 申请（专利权）人： | 杭州芯耘光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 311100 浙江省杭州市余*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试电路，应用于带有电源端（VCC）、地端（GND）、输入电压端口IN1、输入电压端口IN2的集成电路，包括SR锁存器1、计数器、串行/并行单元、比较器CMP1、比较器CMP2，所述SR锁存器1输入端分别接所述比较器CMP1、比较器CMP2；所述比较器CMP1、比较器CMP2输入端均分别连接电源端（VCC）、输入电压端口IN1；所述SR锁存器1输出端与所述计数器输入端连接，所述计数器输出端与所述串行/并行单元输入端连接；所述串行/并行单元输出计数信号。通过对芯片的部分输入端口加入特定的信号，从而激活内置的测试模式设定电路，而不需要增加额外的ADC电路，可以节省成本且降低芯片的复杂度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 电路 及其 构成 集成电路 设定 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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