[发明专利]卷积神经网络(CNN)算法支持的晶片的最小监督自动检查(AI)在审
| 申请号： | 202010180887.2 | 申请日： | 2020-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN113409234A | 公开（公告）日： | 2021-09-17 |
| 发明（设计）人： | 伊兰·卡尔德隆;谢尔盖·兰扎特;伊雷纳·凯马尔斯基;利奥尔·哈伊姆;安龙华 | 申请（专利权）人： | 耐斯泰科技2001有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 俞立文;杨明钊 |
| 地址： | 以色列*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请涉及卷积神经网络(CNN)算法支持的晶片的最小监督自动检查(AI)。计算装置包括存储器和处理器。存储器被配置为保存电子电路的一个或更多个参考图像。处理器被配置成(a)通过在参考图像中嵌入缺陷的视觉伪像来根据参考图像生成一组训练图像，(b)使用该一组训练图像来训练神经网络(NN)模型，以及(c)使用经训练的NN模型来识别在电子电路的复制品的经扫描的图像中的缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 卷积 神经网络 cnn 算法 支持 晶片 最小 监督 自动 检查 ai | ||
【主权项】：
暂无信息
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