[发明专利]一种单管半导体激光器老化测试装置在审
| 申请号： | 202010182915.4 | 申请日： | 2020-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN111239581A | 公开（公告）日： | 2020-06-05 |
| 发明（设计）人： | 王智勇;杨逸飞;刘友强;秦文斌;曹银花 | 申请（专利权）人： | 北京工业大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 沈军 |
| 地址： | 100022 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及半导体激光器制造领域，公开了一种单管半导体激光器老化测试装置，包括搭载平台、供电搭接件及探针组件；搭载平台用于搭载预测试的单管半导体激光器；供电搭接件安装在搭载平台上，并与探针组件相连接；供电搭接件用于伸向预测试的单管半导体激光器上侧的预设位置，以使得探针组件的端部与预测试的单管半导体激光器的电极相接触；本发明结构简单、成本低廉，可十分精细对预测试的单管半导体激光器进行通电操作，其操作便捷且精准可靠，并不会对预测试的单管半导体激光器的结构造成损坏，大大方便了对预测试的单管半导体激光器的老化测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体激光器 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
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