[发明专利]负型光阻混合物及光阻图案形成方法有效

专利信息
申请号: 202010187210.1 申请日: 2020-03-17
公开(公告)号: CN111176072B 公开(公告)日: 2023-10-03
发明(设计)人: 高攀 申请(专利权)人: TCL华星光电技术有限公司
主分类号: G03F7/004 分类号: G03F7/004;G03F7/038;G03F7/00
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 唐秀萍
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种负型光阻混合物及光阻图案形成方法,负型光阻混合物包括香豆素衍生线性聚合物,光阻图案形成方法包括整层涂布负型光阻混合物形成一负型光阻层,使用掩模构件对负型光阻层的遮光部分进行遮光,对负型光阻层未被掩模构件遮住的部分进行曝光,形成曝光部分,曝光部分包括负型光阻层和包裹负型光阻层的体型凝胶,使用显影液对负型光阻层进行蚀刻,去除遮光部分,形成负型光阻图案。
搜索关键词: 负型光阻 混合物 图案 形成 方法
【主权项】:
暂无信息
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