[发明专利]一种大气云雾场颗粒探测与粒径测量的方法与装置在审
| 申请号： | 202010187649.4 | 申请日： | 2020-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN113484201A | 公开（公告）日： | 2021-10-08 |
| 发明（设计）人： | 吴迎春;金昱廷;吴学成;李晗;孙玉玺;高燚超;金其文;张宏宇;陈玲红;岑可法 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01S17/95;G01S7/48;G01S7/481;G01S17/89 |
| 代理公司： | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人： | 白静兰 |
| 地址： | 310013 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种大气云雾场颗粒探测与粒径测量的方法：使用平行光束照射颗粒探测区域，当颗粒穿过颗粒探测区域时，被平行光束照射的颗粒产生颗粒散射光；颗粒散射光和平行光束的一部分进入数字相机，颗粒散射光的另一部分触发光电探测器产生脉冲触发信号；平行光束的另一部分被收集；根据脉冲触发信号控制数字相机记录颗粒全息图；重建颗粒全息图获得颗粒的聚焦图像，根据聚焦图像获得颗粒粒径信息。本发明还公开了一种采用上述方法的装置：颗粒探测与全息拍摄系统、颗粒探测与全息拍摄系统和控制与数据处理系统。本发明提供的方法及装置极大提高了颗粒采样与测量效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 大气 云雾 颗粒 探测 粒径 测量 方法 装置 | ||
【主权项】：
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