[发明专利]一种测氧法分析铝电解槽电解质的方法及其取样装置有效
| 申请号： | 202010190454.5 | 申请日： | 2020-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN111239169B | 公开（公告）日： | 2023-04-18 |
| 发明（设计）人： | 涂槐;秦剑锋 | 申请（专利权）人： | 重庆天泰铝业有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/2202 | 分类号： | G01N23/2202;G01N23/223 |
| 代理公司： | 重庆中之信知识产权代理事务所(普通合伙) 50213 | 代理人： | 刘强 |
| 地址： | 400050 重庆市九*** | 国省代码： | 重庆;50 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种测氧法分析铝电解槽电解质的方法，包括如下步骤：S6、将压片后的样品放入波长色散型X射线荧光光谱仪，测定出钠、钙、铝、硅、氟以及氧元素的含量；S7、根据S6中硅元素的质量推导出二氧化硅的质量；S8、根据S7中二氧化硅中氧元素的质量推导出二氧化硅中氧元素的质量；S9、根据S6中氧元素的质量减去S7中二氧化硅中氧元素的质量得到剩下的氧元素的质量进而推导出氧化铝的质量；S10、根据S9中氧化铝的质量得到氧化铝中铝元素的质量；S11、根据S6中铝元素的质量减去S10中氧化铝中铝元素的质量得到剩下的铝元素的质量从而推导出氟化铝的质量；S12、根据S6中钠元素的质量推导出氟化钠的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测氧法 分析 电解槽 电解质 方法 及其 取样 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆天泰铝业有限公司，未经重庆天泰铝业有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010190454.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种波纹管洞口防渗防滑移和加强装置
- 下一篇：基于晶圆键合形成SiO
