[发明专利]一种基于X射线的全角度无损检测装置在审

专利信息
申请号: 202010191680.5 申请日: 2020-03-18
公开(公告)号: CN111198197A 公开(公告)日: 2020-05-26
发明(设计)人: 殷濛濛 申请(专利权)人: 深圳市伟铭光电有限公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G01N23/18
代理公司: 北京专赢专利代理有限公司 11797 代理人: 于刚
地址: 518101 广东省深圳市宝安*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明适用于探伤设备技术领域,尤其涉及一种基于X射线的全角度无损检测装置,包括机架,所述全角度无损检测装置还包括:透射机构,所述透射机构与机架固定连接,用于通过射线对待测零件同一检测点进行多角度成像;载物机构,所述载物机构设置在透射机构射线发射路径上并与机架固定连接,用于夹持待测零件并调整零件空间位置及旋转零件;保护机构,所述保护机构包覆设置在机架外围,用于屏蔽透射机构产生的射线。本发明实施例提供的一种基于X射线的全角度无损检测装置,通过载物机构根据透射机构产生射线的方向调整零件空间位置及空间姿态,实现对零件检测点的多角度透射检测,提高了零件探伤的准确性。
搜索关键词: 一种 基于 射线 角度 无损 检测 装置
【主权项】:
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