[发明专利]X射线时间演化过程测量装置在审
| 申请号： | 202010195351.8 | 申请日： | 2020-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN111221029A | 公开（公告）日： | 2020-06-02 |
| 发明（设计）人： | 侯立飞;刘慎业;杨家敏;袁铮;杨国洪;杜华冰;李晋;陈韬;杨轶濛;车兴森;韦敏习;孙奥;尚万里;王峰 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 张延薇 |
| 地址： | 621000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 一种X射线时间演化过程测量装置，涉及X射线辐射流定量测量领域，所述X射线时间演化过程测量装置包括：脉冲展宽系统和信号处理系统，所述脉冲展宽系统包括加速区、漂移区和收集区，所述加速区用于对电子进行加速，且使得不同时间段进入所述加速区的电子的速度不同，所述漂移区用于使电子匀速运动，所述收集区用于收集电子；所述信号处理系统与所述收集区连接，用于通过展宽回推计算获得信号测量结果。所述X射线时间演化过程测量装置能够将信号展宽，然后通过展宽回推计算获得短脉冲信号的测量结果，从而实现高时间分辨的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 时间 演化 过程 测量 装置 | ||
【主权项】：
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