[发明专利]MALDI质谱分析用测定试样制备方法及其装置在审

专利信息
申请号: 202010195797.0 申请日: 2020-03-18
公开(公告)号: CN111721595A 公开(公告)日: 2020-09-29
发明(设计)人: 植松克之;铃木一己 申请(专利权)人: 株式会社理光
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28;G01N1/42;G01N27/62
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 魏延玲
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及MALDI质谱分析用测定试样制备方法,MALDI质谱分析用测定试样制备装置,MALDI质谱分析用测定试样,MALDI质谱分析方法,以及计算机可读存储介质。本发明的课题在于,提供通过MALDI进行质谱分析时可向一个试样配置二种以上基质的MALDI质谱分析用测定试样制备方法。在本发明的MALDI质谱分析用测定试样制备方法中,基材将用于制备MALDI质谱分析用测定试样的基质配置在表面,通过将激光束照射所述基材的与配置所述基质侧相反侧的所述基材的表面,使得所述基质从所述基材飞行,使其配置在MALDI质谱分析对象的试样的规定位置。
搜索关键词: maldi 谱分析 测定 试样 制备 方法 及其 装置
【主权项】:
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