[发明专利]一种检测芯片、其修饰方法及反应系统在审

专利信息
申请号: 202010197439.3 申请日: 2020-03-19
公开(公告)号: CN111266142A 公开(公告)日: 2020-06-12
发明(设计)人: 殷雨丹;于静;刘浩男;刘祝凯 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: B01L3/00 分类号: B01L3/00;G01N33/68
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 刘源
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请公开了一种检测芯片、其修饰方法及反应系统,该修饰方法包括对具有硅氧化物的检测芯片活化处理,以使硅氧化物转化为硅羟基;将具有硅羟基的检测芯片置于3‑甘油丙基三甲氧基硅烷的有机溶液中,得到表面结合有环氧基的检测芯片。通过在检测芯片表面上进行一系列表面化学反应操作,使得检测芯片表面生成了通过化学键连接的环氧基,解决了相关技术中检测芯片上包含环氧基的化合物薄膜易脱落的问题,提高了后续蛋白偶联效率。
搜索关键词: 一种 检测 芯片 修饰 方法 反应 系统
【主权项】:
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