[发明专利]三维存储器的制备方法及三维存储器有效
申请号: | 202010198219.2 | 申请日: | 2020-03-19 |
公开(公告)号: | CN111370413B | 公开(公告)日: | 2022-11-04 |
发明(设计)人: | 吴林春;张豪;张坤;周文犀;夏志良 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/11521 | 分类号: | H01L27/11521;H01L27/11556;H01L27/11568;H01L27/11582 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 杨佩;刘芳 |
地址: | 430078 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供一种三维存储器的制备方法及三维存储器,该方法包括:在牺牲层上方形成堆栈结构;形成贯穿堆栈结构并陷入半导体基底层的沟道孔;在沟道孔中形成沟道结构;形成贯穿堆栈结构并延伸至牺牲层的工艺孔;去除牺牲层和部分沟道结构,以在半导体基底层和堆栈结构的最底层之间形成间隙,且使部分半导体沟道层暴露在间隙中;在工艺孔以及间隙中沉积半导体材料,以形成半导体材料层,其中,半导体材料层限定出中部缝隙,从而使得沉积形成的半导体材料层具有良好的均匀性,提高了半导体材料层的结构稳定性,为后续工艺制程的稳定性提供了保障。 | ||
搜索关键词: | 三维 存储器 制备 方法 | ||
【主权项】:
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H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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