[发明专利]一种微波元器件S参数全温自动测试系统及测试方法有效
| 申请号： | 202010198431.9 | 申请日： | 2020-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN111273110B | 公开（公告）日： | 2022-01-14 |
| 发明（设计）人： | 朱雪婷;陈昌禧;贺勇;张青;韩玉成;陈庆红 | 申请（专利权）人： | 中国振华集团云科电子有限公司;贵州振华电子信息产业技术研究有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 贵阳中工知识产权代理事务所 52106 | 代理人： | 杨成刚 |
| 地址： | 550018 贵州省*** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | 一种微波元器件S参数全温自动测试系统及测试方法，包括工控机、综合软件平台、矢量网络分析仪、高低温试验箱、测试模块、待测件；所述工控机主机为所述综合软件平台提供运算处理和数据存储；所述综合软件平台安装于所述工控机主机中，对高低温试验箱和矢量网络分析仪进行控制和数据交换；所述矢量网络分析仪通过LAN线与工控机主机LAN口连接，通过测试线与测试模块连接；所述高低温试验箱通过LAN线与工控机主机LAN口连接；所述测试模块与待测微波元器件置于所述高低温试验箱恒温区域内。可按要求设置测试频率点、起始温度、温度间隔、终点温度，自动实现所有温度点S参数的测量和数据处理。广泛用于各种微波元器件S参数测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微波 元器件 参数 自动 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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