[发明专利]一种储层物性参数的预测方法及电子设备有效
| 申请号： | 202010200744.3 | 申请日： | 2020-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN111399042B | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 温瑨;杨顶辉 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01V1/28 | 分类号： | G01V1/28;G01V1/30 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人： | 张黎;许振新 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种储层物性参数的预测方法及电子设备，该方法包括：获取目标区域的多个地质物性参数，并基于目标区域中的样本区域的多个地质物性参数，建立目标区域的岩石物理模型；基于目标区域的岩石物理模型和目标区域的多个地质物性参数，构建基于贝叶斯理论的单参数反演最优化问题，并通过求解基于贝叶斯理论的单参数反演最优化问题，得到目标候选区域；基于目标区域的岩石物理模型，构建针对目标候选区域的基于贝叶斯理论的多参数联合反演最优化问题，并通过求解针对目标候选区域的基于贝叶斯理论的多参数联合反演最优化问题，得到目标候选区域中的多参数的预测值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 物性 参数 预测 方法 电子设备 | ||
【主权项】：
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