[发明专利]一种高集成度TR组件的焊接装配互连方法在审

专利信息
申请号: 202010201666.9 申请日: 2020-03-20
公开(公告)号: CN111384601A 公开(公告)日: 2020-07-07
发明(设计)人: 王帅;陈思;杜娟;范瑜 申请(专利权)人: 上海无线电设备研究所
主分类号: H01Q21/00 分类号: H01Q21/00;H05K3/30
代理公司: 上海元好知识产权代理有限公司 31323 代理人: 徐雯琼;章丽娟
地址: 200233 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种高集成度TR组件的焊接装配互连方法,该方法包含:将电连接器和绝缘子以温度A℃±10℃焊接在TR组件盒体上;将电阻电容以温度B℃±10℃焊接在印制板上,其中,A℃≥B℃+20℃;将微带板和带有电容电阻的印制板以温度C℃±10℃焊接在TR组件盒体上,其中,B℃≥C℃+20℃;将带有芯片的钼铜垫片载体以温度D℃±10℃焊接在TR组件盒体上,其中,C℃≥D℃+20℃;对TR组件盒体气密性封装,将盖板焊接在TR组件盒体的顶部。其优点是:该方法采用多温度梯度装配的方式,使相邻温度梯度的焊接装配温度相差至少20℃,确保了所有温度的烧焊面及焊点不存在重熔风险,避免了在装配过程中出现焊接重熔现象,提高了TR组件整体焊接装配的可靠性。
搜索关键词: 一种 集成度 tr 组件 焊接 装配 互连 方法
【主权项】:
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