[发明专利]一种SGT-MOSFET半导体器件有效

专利信息
申请号: 202010203302.4 申请日: 2020-03-20
公开(公告)号: CN111211174B 公开(公告)日: 2023-01-31
发明(设计)人: 张帅;黄昕;张攀 申请(专利权)人: 济南安海半导体有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L29/423
代理公司: 济南信达专利事务所有限公司 37100 代理人: 刘凯
地址: 250014 山东省济南市经*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明提供一种SGT‑MOSFET半导体器件,属于半导体技术领域,其结构包括N型重掺杂半导体衬底和位于N型重掺杂半导体衬底上表面的N型半导体漂移区;N型半导体漂移区的上表面设有P型区,P型区上表面设有N型重掺杂半导体源区,N型重掺杂半导体源区设有贯穿P型区并延伸至N型半导体漂移区中的控制栅;N型重掺杂半导体源区设有贯穿P型区并延伸至N型半导体漂移区中的屏蔽栅;控制栅设置有至少一个,屏蔽栅设置有至少两个,控制栅设置在相临的两个屏蔽栅之间。本发明利用分裂栅和浮置P阱技术极大改善了沟槽栅器件性能。本发明的浮置P阱配置、以及N‑漂移区的配置具有优化的电场分布结构,提高器件耐压,降低导通电阻,从而降低驱动损耗和开关损耗。
搜索关键词: 一种 sgt mosfet 半导体器件
【主权项】:
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