[发明专利]用于减轻存储器单元错误形状的技术

摘要

本发明提供了用于减轻存储器孔错误形状的问题的技术。在一个方面，一个或多个控制电路被配置为使用第一编程参数将一组非易失性存储器单元从擦除状态编程到多个编程状态。所述一个或多个控制电路测量所述组的阈值电压以确定所述组中的存储器孔错误形状的严重性。所述一个或多个控制电路使用基于所述组中的所述存储器孔错误形状的所述严重性而选择的第二编程参数，将所述组从所述擦除状态编程到所述多个编程状态。