[发明专利]一种电光采样测量波形修正方法及系统有效
| 申请号： | 202010210478.2 | 申请日： | 2020-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN111289785B | 公开（公告）日： | 2021-06-22 |
| 发明（设计）人： | 赵科佳;杨智君;冯志刚;吴昭春;陈赫 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01R13/02 | 分类号： | G01R13/02 |
| 代理公司： | 北京劲创知识产权代理事务所(普通合伙) 11589 | 代理人： | 张铁兰 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种电光采样测量波形修正方法及系统，该方法包括：确定EOS系统测量波形的数学模型；采用高斯函数拟合出EOS系统测量波形中的主信号和反射信号；将最小二乘算法结合到高斯函数拟合过程中，拟合出最逼近EOS系统实际测量波形的曲线，得到EOS系统测量波形的最优控制参数；利用所述最优控制参数重构反射信号，并从EOS系统测量波形中扣除重构的反射信号，从而得到修正后的EOS系统测量波形。本发明提供的技术方案，通过构建反射信号波形，科学合理地修正了测量波形中主信号波形与反射信号波形的重合叠加问题，从EOS系统实际测量波形中有效恢复了被测主信号波形，有效解决了测量波形失真问题，进而实现了PD产生的高速脉冲波形参数的计量溯源。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电光 采样 测量 波形 修正 方法 系统 | ||
【主权项】：
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