[发明专利]一种基于MCU的高精度AD采样校正方法在审
| 申请号： | 202010210711.7 | 申请日： | 2020-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN111240251A | 公开（公告）日： | 2020-06-05 |
| 发明（设计）人： | 刘蕾;孙雪;张林 | 申请（专利权）人： | 一巨自动化装备（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G05B19/042 | 分类号： | G05B19/042;H03M1/10 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 范晴 |
| 地址： | 201805 上海市嘉定*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于MCU的高精度AD采样校正方法，MCU通对任意值高精度的参考电压进行采样，将其AD转换结果与理论值对比；若误差超出参考电压的误差范围，则认为MCU的AD转换结果是由MCU ADC模块供电电源误差造成偏差，需要对其进行校正。本发明对于MCU进行采样的所有传感器信号都能实现成本低、精度高的优势。借助对高精度参考电压的采样，即可对MCU的ADC模块供电电源进行校正，从而提高MCU ADC模块电源的精度；解决了MCU参考电源VREF电压需与待转换信号的最大幅度相匹配的限制，不必要采用具备VREF独立引脚的MCU芯片，更不需要单独为MCU的高精度电源增加一个电路，只需在原本电源系统中选取一个精度较高的恒定参考电压即可，大大降低了电路成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 mcu 高精度 ad 采样 校正 方法 | ||
【主权项】：
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