[发明专利]一种离轴抛物面镜离轴量的测量装置及测量方法有效
申请号: | 202010211633.2 | 申请日: | 2020-03-24 |
公开(公告)号: | CN111272083B | 公开(公告)日: | 2021-02-26 |
发明(设计)人: | 王姗姗;徐博文;周书红;张南生;郝群;胡摇 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G01M11/00;G01M11/02 |
代理公司: | 北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙) 11639 | 代理人: | 张利萍 |
地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种离轴抛物面镜离轴量的测量装置及测量方法,属于光学元器件测量技术领域。本发明针对背面垂直于光轴的离轴抛物面镜,基于激光干涉仪和激光器,利用光的直线传播原理,分别定位离轴抛物面镜机械中心和抛物面镜光轴的位置,通过对两个位置距离的测量,实现对离轴抛物面离轴量的测量。本发明能够实现在一般光学实验室中即可方便有效、高效快速的完成离轴量测量,同时,降低了测量装置的复杂性。 | ||
搜索关键词: | 一种 抛物面镜 离轴量 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】:
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