[发明专利]一种厚膜发热电阻快速老化装置及老化方法有效
| 申请号： | 202010213773.3 | 申请日： | 2020-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN111251724B | 公开（公告）日： | 2023-07-25 |
| 发明（设计）人： | 陈文卓;曹永茂;冷正超;王吉刚 | 申请（专利权）人： | 山东华菱电子股份有限公司 |
| 主分类号： | B41J2/335 | 分类号： | B41J2/335;B41J2/14 |
| 代理公司： | 威海科星专利事务所 37202 | 代理人： | 于涛 |
| 地址： | 264209 山东省威*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明提出一种厚膜发热电阻快速老化装置及老化方法，其中装置包括控制模块，控制模块分别与加热模块、电脉冲发生模块、测温模块、测阻模块相连，加热模块用于给放置厚膜发热电阻基板的加热台进行加热；测温模块用于实时测量加热台的温度；测阻模块用于测量厚膜发热电阻基板中发热电阻体的阻值；电脉冲发生模块与探针模块相连，探针模块内的个别电极探针及共同电极探针用于与发热电阻体相连，电脉冲发生模块根据控制模块的控制产生预期电平值的电脉冲，控制模块控制该电脉冲的循环次数。上述厚膜发热电阻快速老化装置及老化方法采用外部加热与发热电阻体自身发热协同作用，加剧电荷振动，加速内部残存电荷快速耗散。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 发热 电阻 快速 老化 装置 方法 | ||
【主权项】：
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