[发明专利]一种用于微小推力测量的高分辨率角位移测量装置及其方法在审
| 申请号： | 202010217268.6 | 申请日： | 2020-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN111380486A | 公开（公告）日： | 2020-07-07 |
| 发明（设计）人： | 杨文将;冀宇;刘朝鑫;宋东彬 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01B11/26 | 分类号： | G01B11/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于微小推力测量的高分辨率角位移测量装置及其方法。测量装置包括激光位移传感器、支架、阿基米德测量块、数据采集仪，阿基米德测量块随被测目标同轴转动，其外径随方位角呈线性增加，通过测量激光传感器和阿基米德测量块侧表面之间的距离变化解算被测目标的角位移；测量步骤包括(1)激光位移传感器发射测量光测量其与阿基米德测量块侧表面之间的距离，(2)数据采集仪采集并记录激光文位移传感器输出的模拟信号电压，(3)通过输出电压的变化来解算被测目标的角位移。本发明原理简单，测量时响应速度快，测量分辨率高，解决了现有角位移测量方法原理复杂、制作成本高、调试难度大等不足。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 微小 推力 测量 高分辨率 位移 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
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