[发明专利]基于氮化镓外延异质结的常开型HEMT器件及其制备方法在审
申请号: | 202010218115.3 | 申请日: | 2020-03-25 |
公开(公告)号: | CN111463274A | 公开(公告)日: | 2020-07-28 |
发明(设计)人: | 关赫;沈桂宇 | 申请(专利权)人: | 西北工业大学 |
主分类号: | H01L29/778 | 分类号: | H01L29/778;H01L21/335;H01L29/20;H01L29/40;H01L29/06 |
代理公司: | 西安利泽明知识产权代理有限公司 61222 | 代理人: | 林兵 |
地址: | 710000 陕西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: |
本发明属于集成电路技术领域,尤其涉及一种基于氮化镓外延异质结的常开型HEMT器件及其制备方法。器件包括GaN外延、SiN钝化层、源漏电极、栅电极、第一SiO |
||
搜索关键词: | 基于 氮化 外延 异质结 常开 hemt 器件 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西北工业大学,未经西北工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010218115.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种燃气泄漏报警装置
- 下一篇:SINR的估计方法、系统、电子设备和存储介质
- 同类专利
- 专利分类