[发明专利]一种高温环境下工作的碳化硅装置及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202010218933.3 申请日: 2020-03-25
公开(公告)号: CN111509032A 公开(公告)日: 2020-08-07
发明(设计)人: 李昀佶;何佳;陈彤 申请(专利权)人: 泰科天润半导体科技(北京)有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/16;H01L21/02;H01L29/45;H01L29/47
代理公司: 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 代理人: 林云娇
地址: 100000 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种高温环境下工作的碳化硅装置及其制造方法,方法包括:选取一SiC衬底片;采用现有技术进行正面金属淀积及退火,形成肖特基接触;背面金属淀积及退火工艺:对SiC衬底片进行金属淀积之后退火,形成第一金属层;之后在第一金属层上再进行金属淀积,之后形成第二金属层,形成欧姆接触,第二金属层不需要进行退火,减少了退火后的生成物,提高了SiC欧姆接触的可靠性。
搜索关键词: 一种 高温 环境 工作 碳化硅 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
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