[发明专利]等间隙梯度递增同心圆式双面硅漂移探测器及其设计方法有效
申请号: | 202010220647.0 | 申请日: | 2020-03-25 |
公开(公告)号: | CN111370527B | 公开(公告)日: | 2023-06-23 |
发明(设计)人: | 李正;路顺茂;刘曼文 | 申请(专利权)人: | 湘潭大学 |
主分类号: | H01L31/115 | 分类号: | H01L31/115;H01L31/0224;H01L31/18 |
代理公司: | 长沙新裕知识产权代理有限公司 43210 | 代理人: | 刘熙 |
地址: | 411105 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明公开了一种等间隙梯度递增同心圆式双面硅漂移探测器及其设计方法,等间隙梯度递增同心圆式双面硅漂移探测器,包括硅基体,硅基体的上表面刻蚀有正面同心圆式圆形阴极环,硅基体的下表面刻蚀有反面同心圆式圆形阴极环,正面同心圆式圆形阴极环和反面同心圆式圆形阴极环均是由多个从内向外依次套设的圆形阴极环组成,两者中相邻两圆形阴极环的间隙相等,相邻两圆形阴极环之间的间距从内向外依次梯度递增,具体是以位于内部的圆形阴极环内半径的三分之二次方梯度递增;且结构和尺寸相同,正面同心圆式圆形阴极环第一环内刻蚀有正面阳极电极。解决了现有SDD单元面积小、拼接阵列难度大、成本高的问题。 | ||
搜索关键词: | 间隙 梯度 递增 同心圆 双面 漂移 探测器 及其 设计 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的