[发明专利]自动检查系统在审
| 申请号： | 202010220799.0 | 申请日： | 2020-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN112067324A | 公开（公告）日： | 2020-12-11 |
| 发明（设计）人： | 小埜和夫;西村卓真;望月义则 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立制作所 |
| 主分类号： | G01M99/00 | 分类号： | G01M99/00;G01H17/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 曾贤伟;范胜杰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种自动检查系统。无线子机将检查对象物的状态作为学习用数据发送到设定装置，基于由设定装置设定的学习结果，得到检查对象物的状态与检查对象物的通常时的状态的差异度作为解析结果，将包含解析结果的数据无线发送到无线主机。设定装置将从无线子机接收到的学习用数据传送到分析管理装置，将从分析管理装置发送的学习结果设定于无线子机。分析管理装置通过从设定装置传送的学习用数据提取将检查对象物的状态特征化的特征量，将提取到的特征量作为学习结果并发送到设定装置。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 检查 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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