[发明专利]存储器测试系统及其测试方法有效
| 申请号： | 202010221644.9 | 申请日： | 2020-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN113450865B | 公开（公告）日： | 2022-05-20 |
| 发明（设计）人： | 何浩;陆丹;汪洋 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 王辉;阚梓瑄 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开是关于一种存储器测试系统及其测试方法，所述存储器测试系统包括：多个测试装置、上位机和驱动模块；每个所述测试装置上均设置有测试接口，所述测试接口用于连接待测试存储器；所述上位机分别和多个所述测试装置连接，所述上位机用于控制所述测试装置对所述待测试存储器进行测试；所述驱动模块和所述测试装置连接，所述驱动模块向所述测试装置输出驱动信号，所述驱动信号用于驱动所述测试装置和所述上位机进行数据交互。提高了存储器测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
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