[发明专利]一种光器件、光芯片损耗测试装置及方法有效
| 申请号： | 202010225015.3 | 申请日： | 2020-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN111256960B | 公开（公告）日： | 2022-04-22 |
| 发明（设计）人： | 周治平;杨丰赫 | 申请（专利权）人： | 北京爱杰光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京睿智保诚专利代理事务所(普通合伙) 11732 | 代理人： | 周新楣 |
| 地址： | 100089 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及光学损耗测试领域，公开了一种光器件、光芯片损耗测试装置及方法，包括：包括微环谐振系统、输入系统、输出系统，所述输入系统包括第一光纤和第一光耦合器，所述输出系统包括第二光纤、第二光耦合器、第三光耦合器，所述第一光耦合器一端与第一光纤连接，另一端与所述微环谐振系统连接；所述第二光耦合器设置于所述微环谐振系统上行端，其一端与第二光纤连接，另一端与所述微环谐振系统连接；所述第三光耦合器设置于所述微环谐振系统下行端，其一端与第二光纤连接，另一端与所述微环谐振系统连接。通过将被测光器件、光芯片嵌套进微环谐振系统，进而提高了测试精确度、稳定性和灵活性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 器件 芯片 损耗 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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