[发明专利]一种钽酸锂晶片异质键合的方法在审
申请号: | 202010225144.2 | 申请日: | 2020-03-26 |
公开(公告)号: | CN111519255A | 公开(公告)日: | 2020-08-11 |
发明(设计)人: | 张学锋;肖学峰 | 申请(专利权)人: | 宁夏钜晶源晶体科技有限公司 |
主分类号: | C30B33/06 | 分类号: | C30B33/06;C30B29/30;C30B29/06;H03H3/007 |
代理公司: | 宁夏合天律师事务所 64103 | 代理人: | 周晓梅 |
地址: | 753000 宁夏回族自治区石嘴山市大*** | 国省代码: | 宁夏;64 |
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摘要: | 本发明提出一种钽酸锂晶片异质键合的方法,包括以下步骤:将单晶硅片与钽酸锂晶片相对设置,保持单晶硅片表面的薄膜层与钽酸锂晶片相对设置,放入键合机;中温加热,并维持至少1h,完成一次键合,形成一次键合体;将一次键合体放入退火炉,高温加热退火,完成二次键合;其中,单晶硅片表面的薄膜层与碳酸锂晶片层为异种材质;发明采用中温一次键合之后,又基于两种材质热膨胀系数不同的特性,设计了高温二次键合,即退火工艺,通过退火改变两层之间的结合键的类型,增强两层之间的结合力,避免层与层之间的剥离。 | ||
搜索关键词: | 一种 钽酸锂 晶片 异质键合 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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