[发明专利]一种基于自适应双截断重要抽样的结构可靠性高效失效概率计算方法

摘要

本发明提供一种基于自适应双截断重要抽样的高效失效概率计算方法，步骤如下：一：确定结构主要随机变量X＝(X1,X2,...,Xn)的分布类型及参数，并将原随机变量转化为标准正态空间内的随机变量Y＝(Y1,Y2,...,Yn)，相应的极限状态函数转化为g(Y)(若极限状态函数为隐式则无需转化)；二：迭代次数l＝1，确定验算点y*(1)和β球(以原点为球心并以可靠度指标β为半径的超球面)半径β(1)；三：利用筛选法生成服从截断重要分布的样本点四：计算失效概率估计值五：计算方差和变异系数六：更新验算点和β球半径；七：判断(ε为预先给定的精度要求)是否满足；如果精度不足，l＝l+1，转步骤三，直到满足精度要求。