[发明专利]形状测量装置在审
| 申请号： | 202010227400.1 | 申请日： | 2020-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN111811423A | 公开（公告）日： | 2020-10-23 |
| 发明（设计）人： | 加藤庆显 | 申请（专利权）人： | 株式会社三丰 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邸万奎 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种设置在形状测量装置上的头部，包括与光源和光接收器整体位移的半透明的触笔头，并且布置在光源和光接收器之间。触笔头包括使来自光源的光入射到触笔头内部的入射部分、全反射入射光的反射部分和向光接收器发射被全反射的光的光发射部分。由被全反射表面全反射的光在测量表面处产生倏逝光。触笔头使测量表面和可测量物体的表面面向彼此，将测量表面与可测量物体的表面分开，并且被布置成使得倏逝光到达可测量物体的表面。 | ||
| 搜索关键词： | 形状 测量 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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