[发明专利]一种X射线超快检测装置及方法在审
申请号: | 202010229863.1 | 申请日: | 2020-03-27 |
公开(公告)号: | CN111352144A | 公开(公告)日: | 2020-06-30 |
发明(设计)人: | 尹飞;汪韬;高贵龙;何凯;闫欣;田进寿 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01T1/16 | 分类号: | G01T1/16 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 史晓丽 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明涉及一种X射线超快检测装置及方法,以解决真空条纹相机、真空分幅相机等X射线超快诊断设备体积大,成本高,且控制较为复杂;超快半导体二极管无法实现亚皮秒乃至飞秒量级的X射线超快检测的问题。该装置包括激光器、波长转换机构、时域放大机构、光电探测器、读出电路。激光器发出的测试激光传输至波长转换机构,波长转换机构将待测的X射线脉冲信号时域信息传递给测试激光,再将携带有X射线脉冲信号时域信息的测试激光传输至时域放大机构,时域放大机构对携带有X射线脉冲信号时域信息的测试激光进行时域展宽后,输出至光电探测器,光电探测器将接收到的光信号转换为电信号,并通过读出电路显示。 | ||
搜索关键词: | 一种 射线 检测 装置 方法 | ||
【主权项】:
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