[发明专利]一种芯片抗干扰度的评估方法及装置在审
| 申请号： | 202010233713.8 | 申请日： | 2020-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN111487489A | 公开（公告）日： | 2020-08-04 |
| 发明（设计）人： | 万今明;查理;肖彪;张凡;张佳佳 | 申请（专利权）人： | 珠海格力电器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京煦润律师事务所 11522 | 代理人： | 朱清娟;梁永芳 |
| 地址： | 519070*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片抗干扰度的评估方法及装置，该方法包括：收集待进行抗干扰度评估的芯片的样品，并将样品分成两组，即第一组样品和第二组样品；对第一组样品直接进行EFT注入，产生初始抗扰度数据；对第二组样品进行老化试验，并在对第二组样品的老化试验的过程中进行EFT注入，产生老化抗扰度数据；将初始抗扰度数据与老化抗扰度数据进行比较，得到样品的抗扰度随老化的变化情况，以实现对芯片抗干扰度的评估。本发明的方案，可以解决MCU的电磁兼容性能未考虑元器件老化的影响而存在评估不准确的问题，达到能够考虑元器件老化的影响准确评估MUC的电磁兼容性能的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 抗干扰 评估 方法 装置 | ||
【主权项】：
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