[发明专利]一种GPU的性能测试方法、装置及计算机存储介质在审

专利信息
申请号: 202010233999.X 申请日: 2020-03-30
公开(公告)号: CN111367780A 公开(公告)日: 2020-07-03
发明(设计)人: 马栋;刘微;张斌 申请(专利权)人: 西安芯瞳半导体技术有限公司
主分类号: G06F11/34 分类号: G06F11/34;G06F11/36
代理公司: 西安维英格知识产权代理事务所(普通合伙) 61253 代理人: 沈寒酉;李斌栋
地址: 710065 陕西省西安市高新区丈八*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明实施例公开了一种GPU的性能测试方法、装置及计算机存储介质;该方法可以包括:分析测试用例集中的每个测试用例程序中GPU相关代码的占比值;统计测试用例集中的每个测试用例程序在GPU的运行时长以及运行过程中的帧处理量;对于每个测试用例程序,按照GPU的图形渲染管线划分为多个代码模块,并计算各代码模块的权重值;基于设定的各代码模块对应的影响因子和各代码模块的权重值,以及每个测试用例程序中GPU相关代码的占比值,获取每个测试用例程序在测试用例集中对应的权重值;基于测试用例集中的所有测试用例程序在测试用例集中对应的权重值、运行时长以及运行过程中的帧处理量确定测试用例集针对所述GPU进行性能测试的性能分值。
搜索关键词: 一种 gpu 性能 测试 方法 装置 计算机 存储 介质
【主权项】:
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