[发明专利]基于线阵CCD交汇测量的立靶参数测试装置及其调试方法有效

专利信息
申请号: 202010237263.X 申请日: 2020-03-30
公开(公告)号: CN111521061B 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 李翔宇;丁璐;朱建国;李哲;李治国;刘德宏 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: F41A31/00 分类号: F41A31/00;F41J5/02
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 郑丽红
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提供一种基于线阵CCD交汇测量的立靶参数测试装置及其调试方法,解决现有线阵CCD交汇测试装置在外场应用时环境适应性差,调试效率低,设备调试、标定困难的问题。该测试装置中,支撑架、中间支架、调平底座由上到下依次安装;调平底座上设置有多组调平组件;激光照明装置和线阵CCD相机均设置在支撑架上;激光测距器设置在中间支架上;方位轴系包括主轴和主轴套,主轴位于调平底座内部,且与中间支架固定连接;主轴套套装在主轴的外部,且与调平底座固定连接;互瞄单元包括互瞄光源、互瞄相机和互瞄调整组件;互瞄光源、互瞄相机和互瞄调整组件设置在中间支架腔体内部,互瞄调整组件用于手动或电动旋转方位轴系,从而调整中间支架。
搜索关键词: 基于 ccd 交汇 测量 参数 测试 装置 及其 调试 方法
【主权项】:
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