[发明专利]基于分块并行SMI算法抗主副瓣干扰的和差跟踪测角方法在审
| 申请号： | 202010237630.6 | 申请日： | 2020-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN111537992A | 公开（公告）日： | 2020-08-14 |
| 发明（设计）人： | 陶海红;鲍俊竹;薛凌坤;朱晨睿;陈维佳;任月;瞿建;曾操;何学辉;廖桂生;李靖;智开宇 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学;中国电子科技集团公司第五十四研究所 |
| 主分类号： | G01S13/68 | 分类号： | G01S13/68;G01S7/36;G01S7/28 |
| 代理公司： | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人： | 李园园 |
| 地址： | 710000 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于分块并行SMI算法抗主副瓣干扰的和差跟踪测角方法，包括：步骤1：获取阵列接收数据，利用分块并行SMI算法得到全阵的自适应抗干扰权值；步骤2：以自适应抗干扰权值作为和波束权值，对自适应抗干扰权值按照阵列中心位置对称取反，得到差波束权值；步骤3：对阵列接收的所有快拍数据，分别按照和波束权值和差波束权值加权，得到和通道和差通道输出数据；步骤4：计算和、差通道输出数据在频域上的差和比；步骤5：根据差和比和鉴角曲线斜率得到目标偏角，实现对目标的跟踪测角。本发明提供的和差跟踪测角方法因为采用分块并行SMI算法进行自适应和差波束形成，可保证精确测角的同时，减少运算量，大大缩短测角跟踪时间。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 分块 并行 smi 算法 抗主副瓣 干扰 跟踪 方法 | ||
【主权项】：
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