[发明专利]机载激光雷达点云密度的质量检查方法和装置有效

专利信息
申请号: 202010240259.9 申请日: 2020-03-30
公开(公告)号: CN111462073B 公开(公告)日: 2023-06-20
发明(设计)人: 毕凯;赵俊霞;陈力宏 申请(专利权)人: 国家基础地理信息中心
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/60;G01S7/497;G01S17/87
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 张萌
地址: 100082 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种机载激光雷达点云密度的质量检查方法和装置,涉及机载激光雷达点云数据的质量检查的技术领域,包括获取测区内的点云数据;通过检查窗口在测区进行搜索移动,确定每个检查窗口内的第一点云密度;根据第一点云密度与影像数据确定测区的点云密度不合格目标区域的矢量范围;通过点云密度不合格目标区域的矢量范围的面积和测区面积计算测区的第二点云密度,并根据第二点云密度完成质量检查。该方法在快速实现全测区点云密度的全数检查的基础上,不仅能提高点云密度计算的精度,还能有效提升点云密度的检查效率。
搜索关键词: 机载 激光雷达 密度 质量 检查 方法 装置
【主权项】:
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