[发明专利]用于测量微粒物质的装置和方法在审
| 申请号： | 202010240300.2 | 申请日： | 2020-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN112326515A | 公开（公告）日： | 2021-02-05 |
| 发明（设计）人： | 李右昶;朴润相;张浩埈;南圣炫 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N15/06;G01N21/65 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 吴晓兵 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了一种用于测量微粒物质的装置，该装置包括：图像获取设备，被配置为使引入到图像获取设备的空气中所包括的微粒物质粒子带电，并且基于无透镜成像来获取带电的微粒物质粒子的图像；光谱获取设备，被配置为获取带电的微粒物质粒子的拉曼光谱；以及处理器，被配置为基于所获取的图像来确定微粒物质粒子的大小和微粒物质粒子的浓度，并且基于所获取的拉曼光谱来确定微粒物质粒子的成分。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 微粒 物质 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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