[发明专利]面向教育测量的客观试题属性模式估计与校正方法及系统

摘要

本发明属于教育测量及教育数据挖掘技术领域，公开了一种面向教育测量的客观试题属性模式估计与校正方法及系统，训练出监督度量学习的度量矩阵M1，使用该矩阵初步挖掘所有学习者的知识掌握情况；取部分数据作为训练集，训练出监督度量学习的度量矩阵M2，对新一道客观试题的属性模式进行估计，而后将该试题作为已知试题加入到基础客观试题中，直至估计出所有试题的属性模式；试题估计完毕后，选取一道试题进行属性模式校正，利用校正的客观试题属性模式挖掘所有学习者的知识掌握情况即学习者属性模式。本发明帮助教学人员更客观而详尽地分析试题组成，提高测试效度与信度，为学习者调整学习计划或采取针对性的补救措施提供依据。