[发明专利]激光器波长测量装置及方法有效
申请号: | 202010244216.8 | 申请日: | 2020-03-31 |
公开(公告)号: | CN111289124B | 公开(公告)日: | 2021-03-05 |
发明(设计)人: | 刘广义;江锐;韩晓泉;赵江山;沙鹏飞;殷青青;张华 | 申请(专利权)人: | 北京科益虹源光电技术有限公司 |
主分类号: | G01J9/02 | 分类号: | G01J9/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100176 北京市大兴区北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种激光器波长测量装置及方法,该激光器波长测量装置包括:第一光路组件和第二光路组件;以及第二光路组件与第一光路组件构成激光器波长测量光路,其中,第二光路组件包括:FP标准具组件和光学分级器,经过匀化处理后的所述激光光束经过FP标准具组件产生干涉条纹;以及光学分级器在激光器波长测量光路中设置于FP标准具组件之后,用于对经过FP标准具组件的激光光束进行偏折处理。本发明的FP标准具组件使得两个FP标准具共用同一光路进行干涉成像,结构紧凑体积小,设计简单,稳定性高;在光学分级器的配合下,可以同时实现对激光波长的精准测量,波长测量范围大,适用于激光器波长的在线测量以及对应的闭环控制反馈。 | ||
搜索关键词: | 激光器 波长 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
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