[发明专利]一种QDR SRAM应用验证板及验证方法有效
| 申请号： | 202010247011.5 | 申请日： | 2020-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN111459739B | 公开（公告）日： | 2023-02-24 |
| 发明（设计）人： | 张群;谢成民;金玉琳 | 申请（专利权）人： | 西安微电子技术研究所 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F13/16;G11C7/22;G11C29/10;G11C29/14 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 李晓晓 |
| 地址： | 710065 陕西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明属于集成电路应用验证和应用开发领域，公开了一种QDR SRAM应用验证板及验证方法，包括PCB板，在PCB板上设置抗辐照处理器、FPGA、供电模块、时钟模块和复位模块，抗辐照处理器设计了第一QDR SRAM控制器，FPGA上设计了第二QDR SRAM控制器，第一QDR SRAM控制器和第二QDR SRAM控制器用于连接待验证QDR SRAM，抗辐照处理器和FPGA的编译调试接口用于待验证QDR SRAM的配置和读/写。解决了现有QDR SRAM应用验证板仅可以验证QDR SRAM与特定单一处理器的匹配性以及不能进行宇航用QDR SRAM抗辐照性能的应用验证的缺点，本发明不仅可以验证QDR SRAM与特定种类处理器的匹配性，可以验证QDR SRAM与不同种类控制器之间的匹配性和兼容性，可以进行宇航用QDR SRAM的应用验证，提高了应用验证的覆盖性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 qdr sram 应用 验证 方法 | ||
【主权项】：
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