[发明专利]一种基于变公差带约束的航空叶片型面检测方法和系统有效
| 申请号： | 202010247950.X | 申请日： | 2020-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN111400667B | 公开（公告）日： | 2021-11-02 |
| 发明（设计）人： | 李文龙;金福权;蒋诚;冯胜 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G06F17/18 | 分类号： | G06F17/18 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 徐美琳;李智 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于变公差带约束的航空叶片型面检测方法和系统，属于航空叶片检测领域，其中方法包括：对航空叶片的叶型轮廓测点集中所有点进行曲率估计，基于曲率分布在叶型轮廓测点集中进行降采样，利用采样叶型轮廓测点随机进行拟合圆，实现叶型轮廓分割，得到前缘点集、后缘点集、叶盆点集和叶背点集；分别为前缘点集、后缘点集、叶盆点集和叶背点集设置公差带范围和线性约束，构建目标匹配函数，求解目标匹配函数，得到最优位姿；利用最优位姿对航空叶片进行刚体变换，将刚体变换后的航空叶片与设计叶片进行比较，判断航空叶片叶型是否合格。本发明航空叶片与设计叶片的匹配结果更真实，进而提高叶片检测的准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 公差 约束 航空 叶片 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
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