[发明专利]探测器芯片及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202010256504.5 申请日: 2020-04-02
公开(公告)号: CN111554761B 公开(公告)日: 2022-07-22
发明(设计)人: 黄立;陈晓静;张传杰;张冰洁;姚柏文 申请(专利权)人: 武汉高芯科技有限公司
主分类号: H01L31/0352 分类号: H01L31/0352;H01L31/101;H01L31/18;G01R31/26;G01R31/28
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 代理人: 胡建文
地址: 430205 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及一种探测器芯片,包括碲镉汞薄膜和芯片结构,芯片结构包括pn结、读出电路和铟柱,pn结形成于碲镉汞薄膜的背面上,读出电路位于碲镉汞薄膜的背面侧并且通过铟柱与pn结连接。另外还涉及探测器芯片的制备方法,包括:将碲镉汞薄膜固定于载体上,其中,碲镉汞薄膜的正面朝向载体;去除碲镉汞薄膜背面的衬底;在碲镉汞薄膜背面上形成pn结,该pn结通过铟柱连接读出电路;去除载体。本发明提供的探测器芯片及其制备方法,通过在碲镉汞薄膜背面成结,该pn结即形成于碲镉汞薄膜的背面高组分材料区(也即外延界面处),可以防止芯片反型,降低探测器芯片的漏电流,增强芯片响应信号,从而显著地提高探测器的工作性能。
搜索关键词: 探测器 芯片 及其 制备 方法
【主权项】:
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