[发明专利]基于磁致伸缩扭转导波的GIS外壳缺陷检测的方法在审
| 申请号： | 202010256661.6 | 申请日： | 2020-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN111537617A | 公开（公告）日： | 2020-08-14 |
| 发明（设计）人： | 梁沁沁;林朝扶;张龙飞 | 申请（专利权）人： | 广西电网有限责任公司电力科学研究院 |
| 主分类号： | G01N29/07 | 分类号： | G01N29/07;G01N29/04;G01N27/82 |
| 代理公司： | 北京国帆知识产权代理事务所(普通合伙) 11334 | 代理人： | 李增朝 |
| 地址： | 530015 广西*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于磁致伸缩扭转导波的GIS外壳缺陷检测的方法，所述方法包括：选取GIS外壳的一个位置，在所述位置安装励磁带；将检测式传感器固定在所述励磁带上，并通过所述检测式传感器对所述GIS外壳进行缺陷整体筛查；利用扫查式传感器沿所述励磁带表面对所述GIS外壳进行缺陷准确定位。在本发明实施中，解决了仪器操作步骤繁琐、检测灵敏度低、缺陷难以准确定位的问题，实现对GIS外壳缺陷的带电检测。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 伸缩 扭转 导波 gis 外壳 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
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