[发明专利]一种陶瓷高介电常数(εr)和低介质损耗(QxF值)的检测方法有效
| 申请号： | 202010260475.X | 申请日： | 2020-04-03 |
| 公开（公告）号： | CN111398688B | 公开（公告）日： | 2022-05-27 |
| 发明（设计）人： | 晏育权;吴硕体 | 申请（专利权）人： | 湖南中科特种陶瓷技术开发有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 北京成实知识产权代理有限公司 11724 | 代理人： | 康宁宁 |
| 地址： | 417600 湖南*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明涉及陶瓷检测技术领域，尤其为一种陶瓷高介电常数(εr)和低介质损耗(QxF值)的检测方法，包括以下步骤：A、准备实验材料：一个平行板电容器、若干份相同规格的陶瓷样品；B、检测介电常数：①静电场，②交变电磁场；C、检测介质损耗：①伏安法，②过零点时差比较法；D、统计与总结。本发明通过对实验材料预先进行清洗、烘干处理，排除表面泄露的影响；在检测介电常数时，分别模拟标准大气压、真空环境以适用于检测要求，在检测介质损耗时，采用金属网罩屏蔽外界电场干扰；通过去除最大最小值，然后分别计算各组数据的平均值，降低结果误差，从而有效地提高了陶瓷特性的检测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 陶瓷 介电常数 介质 损耗 qxf 检测 方法 | ||
【主权项】：
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