[发明专利]一种多功能光子芯片检测系统有效
申请号: | 202010260549.X | 申请日: | 2020-04-03 |
公开(公告)号: | CN111397660B | 公开(公告)日: | 2022-03-15 |
发明(设计)人: | 程振洲;武靖雯;邢正锟;杨凌雁;靳喜博;任可欣;张恒锐;胡浩丰;刘铁根 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01D21/02 | 分类号: | G01D21/02 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 刘子文 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明公开一种多功能光子芯片检测系统,包括五个模块:信号输入模块主要用于输入光学和电学信号;光电耦合模块主要用于将光学和电学信号耦合进入光子芯片;数据采集模块主要用于采集光子芯片的输出数据,探测光子芯片附近的图像信息;环境控制模块主要用于控制光子芯片所在的环境参数;人机交互模块主要用于实现人与多功能光子芯片检测系统的对话。该系统通过交互界面进行控制,方便简单。可以实现光纤与光子芯片的自动耦合及手动耦合;可以对芯片周围的多种不同环境参数进行控制,以满足不同种类光子芯片检测的需要,同时还可以对多种光学和电学参量进行测试。 | ||
搜索关键词: | 一种 多功能 光子 芯片 检测 系统 | ||
【主权项】:
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